Исследовано поведение спектров ферромагнитного резонанса тонких магнитных пленок из пермаллоя Fe30Ni70 толщиной 50 нм в зависимости от проводимости кремниевой подложки толщиной 0.25 мм. Пленки получены вакуумным магнетронным напылением с использованием DC-магнетрона. Спектры снимались на сканирующем спектрометре ферромагнитного резонанса на частоте измерительной головки 3.123 ГГц с локальностью измерения ~1.0 мм2, определяемой площадью отверстия в измерительной головке. Обнаружено, что в определенном интервале проводимости подложки спектры, снятые в случае положения образца пленкой к измерительному отверстию, инвертируются, когда к измерительному отверстию обращена свободная сторона подложки. Результаты электродинамического анализа одномерной модели, отражающей условия проведенного эксперимента, качественно согласуются с результатами измерений.
Индексирование
Scopus
Crossref
Higher Attestation Commission
At the Ministry of Education and Science of the Russian Federation